【英文标准名称】:Informationtechnology-Databaselanguages-SQL-Part4:PersistentStoredModules(SQL/PSM);TechnicalCorrigendum2
【原文标准名称】:信息技术.数据库语言.结构化查询语言(SQL).第4部分:连续存储模块(结构化查询语言(SQL)/连续存储模块(PSM)).技术勘误2
【标准号】:ISO/IEC9075-4TechnicalCorrigendum2-2007
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2007-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/IECJTC1/SC32
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据库;数据处理;数据库语言;文献;实际数据库;信息交换;信息技术;模块;连续存储模块;抗性的;结构化查询语言;文本处理;SQL
【英文主题词】:Databases;Dataprocessing;Databaselanguages;Documentations;Factualdatabases;Informationinterchange;Informationtechnology;Modules;Persistentstoredmodules;Resistant;SQL;StructuredQueryLanguage;Textprocessings
【摘要】:ThisstandardisInformationtechnology-Databaselanguages-SQL-Part4:PersistentStoredModules(SQL/PSM);TechnicalCorrigendum2.
【中国标准分类号】:L74
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 苯乙烯-丁二烯系列抗冲击苯乙烯(SB)树脂 |
中标分类: |
化工 >>
合成材料 >>
合成树脂、塑料 |
发布部门: | 中国石油化工总公司 |
发布日期: | 1994-03-10 |
实施日期: | 1994-10-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
提出单位: | 兰州化学工业公司 |
归口单位: | 全国塑料标准化技术委员会石化塑料树脂产品分技术委员会 |
起草单位: | 兰州化学工业公司合成橡胶厂 |
起草人: | 俞重、孙常胜、周摘如 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 1994-10-01 |
页数: | 5页 |
适用范围
本标 准 规 定了苯乙烯一丁二烯系列抗冲击聚苯乙烯树脂的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包
装、运输、贮存要求
本标准适用于以聚苯乙烯和(或)苯乙烯与烷基苯乙烯的共聚物为连续相,以丁二烯系的弹性体为分散相组成的抗冲击聚苯乙烯树脂。
本标准不适用于连续相中含有烷基苯乙烯以外的其他单体与苯乙烯的共聚物的上述材料,也不适用于可发性材料。
前言
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目录
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引用标准
GB/T 1040 塑料拉伸试验方法
GB/T 1633 热塑性塑料软化点(维卡)试验方法
GB/T 1843 塑料悬臂梁冲击试验方法
GB/T 2547 塑料树脂取样方法
GB 2918 塑料试样状态调节和试验的标准环境
GB/T 3682 热塑性塑料熔体流动速率试验方法
GB/T 9342 塑料洛氏硬度试验方法
GB 9692 食品包装用聚苯乙烯树脂卫生标准
GB/T 16867 聚苯乙烯和丙烯睛一丁二烯一苯乙烯树脂中残留苯乙烯单体的测定气相色谱法
SH/T 1051 苯乙烯一丁二烯系列抗冲击聚苯乙烯(SB)模塑和挤出材料命名
SH/T 1541 热塑性塑料颗粒外观试验方法
所属分类: 化工 合成材料 合成树脂 塑料
基本信息
标准名称: | 硅片抗弯强度测试方法 |
英文名称: | Test method for measuring flexure strength of silicon slices |
中标分类: |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金属工艺性能试验方法 |
ICS分类: |
冶金 >>
金属材料试验 >>
金属材料试验综合
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发布部门: | 国家技术监督局 |
发布日期: | 1995-07-12 |
实施日期: | 1996-02-01 |
首发日期: | 1995-07-12 |
作废日期: | 2005-10-14 |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
归口单位: | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
起草单位: | 中南工业大学 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 平装16开, 页数:9, 字数:14千字 |
适用范围
本标准规定了硅单晶切割片、研磨片和抛光片的抗弯强度测试方法。本标准适用于晶向为〈111〉和〈100〉的直拉、悬浮区熔硅单晶片的常温下抗弯强度的测量。硅片厚度为250~900μm。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金属工艺性能试验方法 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合